专利名称：    一种次流场瞬态特性的测量方法

专利号： ZL200710307707.7

专利发明人：  王顺森，毛靖儒，刘观伟，丰镇平

专利类别：    发明专利

授权日期：    2010-06

完成单位：    第一完成单位

内容简介：    一种次流场瞬态特性的测量方法，该方法采用常规的PIV系统，其特征在于，对PIV系统的双脉冲激光器的光路进行调制，使其发出的两束片光相互平行但不重叠，两束片光相互偏移的距离s等于或接近示踪粒子沿主流方向的位移s↓[1];两束片光相互偏移距离s的范围是:0.5s↓[1]≤s≤1.5s↓[1];两束片光在不同时刻分别打在两个测量截面上，使片光跟随主流运动。

原文链接：    一种次流场瞬态特性的测量方法